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一文读懂DCAC SCAN测试技术

标签:一文,读懂,测试,技术 时间:2020年07月07日 阅读467
【导读】SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 重要实现工具是:产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX;插入scan chain重要使用synopsys 的DFT compiler 通常,我们所说的DCSCAN就是normal scan test 即慢速测试,测试频率是10M-30M 关键词优化,AC SCAN 也就是at-speed scan 即实速测试,测试频率与芯片真实工作频率是一样的。


本文将会根据DC/AC SCAN的概念睁开描述,并将他们进行区别对比,让你更加周全的了解DC/AC SCAN测试技术。

  SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 重要实现工具是:产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX;插入scan chain重要使用synopsys 的DFT compiler 通常,我们所说的DCSCAN就是normal scan test 即慢速测试,测试频率是10M-30M ,AC SCAN 也就是at-speed scan 即实速测试,测试频率与芯片真实工作频率是一样的。

  70年代到1995年这段时间里,因为芯片的工作频率很低只有20-100M,scan测试只有DC SCAN北京人事考试信息网,我们就能捕获到所有std-logic的制造缺陷。但是1995年以后,测试科学家和工程师发现通过DC SCAN测试没有缺陷的芯片在高工作频率下使用会有题目。其根本缘故原由是随着制造工艺向深亚微米迈进,芯片的工作频率也进步到200M-1G,原来的SCAN测试方法和模型不再能捕获到所有的std-logic的制造缺陷。大家的同等想法就是-“奔跑吧,SCAN” ,把SCAN的频率增长到与芯片的真实工作频率同等,同时使用新的TransiTIon atpg model来产生测试pattern.

  下面我们介绍DC SCAN与AC SCAN的异同

  

一文读懂DCAC SCAN测试技术 

  如今的工业量产的高速芯片都会要求能做DC SCAN测试和AC SCAN测试,所以DFT工程师也要同时插入两种测试电路,产生两套测试patterns。

  详细实现流程如下

  1 读入没有插入scan的网表

  2 使用Design compiler 插入scan chain和OCC (on chipclocking)模块,同时插入mux, fix DRC

  3 使用Testcompress 实现EDT压缩scan chain

  4 使用Testcompress 产生测试DC/ACpattern,同时产生测试验证的Testbench

  5 验证DC/AC patterns的精确性和电路的精确性

  6 使用SDF凤岗做账报税网站优化排名,验证DC/ACpatterns相干电路的时序是否知足要求

  7 使用DC/AC patterns (wgl文件)转换成ATE所需格式,在ATE上调试和使用

  ATPG工具使用的TransiTIon faultmodel如下图

  

一文读懂DCAC SCAN测试技术 

  常用的OCC电路结构如下

  

一文读懂DCAC SCAN测试技术 

  我们典型的插入OCC以后的电路如下图

  

一文读懂DCAC SCAN测试技术 

 




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